Ficha Bibliográfica 
Mg-1180
Ruiz Castillo, Luis Métodos planimétricos: topografía de precisión. -- Madrid : Imp. Orellana, 1945. 382 p.; 18 cm.
I. Madrid, A. M. de la, pról.
[1] Inv.:000108/47 S.T.:Mg-1180
ISBN | . |
Tipo de Material | TEXTO |
Tipo de Soporte | . |
Título Uniforme | . |
Título | Métodos planimétricos: topografía de precisión |
Título Original | . |
Idioma, Título Original | . |
Responsables Principales | Ruiz Castillo, Luis |
Responsables Secundarios | Madrid, A. M. de la (pról.) |
Edición | . |
Responsable de Edición | . |
Lugar | Madrid |
Editorial | Imp. Orellana |
Fecha Publicación | 1945 |
Fecha Publicación Hasta | . |
País | ES |
Idioma | español |
Area Específica | . |
Descripción Física | . |
Características | . |
Dimensiones | 18 cm. |
Adicionales | |
Notas | . |
Resumen | . |
Idioma Resumen | . |
Epoca de Contenido Desde | . |
Epoca de Contenido Hasta | . |
Materias | Sin descriptores |
Fecha de Alta | 06/11/2009 |
Marc 21
=LDR 004270000022001690004500 =001 107866 =003 DUN =005 20170502112528.0 =008 091106 ES es =041 0 $aes =044 $aES =100 1 $aRuiz Castillo, Luis =245 10$aMétodos planimétricos: topografía de precisión =260 $aMadrid : $bImp. Orellana, $c1945. =300 $a382 p. ; $c18 cm. =700 1 $aMadrid, A. M. de la$epról. =850 $aDUN
ISO 2709 Marc 21
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