Ficha Bibliográfica 
274-69-Mb
Kittl, P.
Microscopía electrónica por el método de réplicas, de Al 99,99 % recocido y recocido y deformado por el impacto. -- Buenos Aires : Comisión Nacional de Energía Atómica, 1962.
8 p. : il.; 21 cm. -- (Informe ; 69)
I. Rodríguez, G.
[1] Inv.:380151 S.T.:274-69-Mb
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| ISBN | . |
| Tipo de Material | TEXTO |
| Tipo de Soporte | . |
| Título Uniforme | . |
| Título | Microscopía electrónica por el método de réplicas, de Al 99,99 % recocido y recocido y deformado por el impacto |
| Título Original | . |
| Idioma, Título Original | . |
| Responsables Principales | Kittl, P. |
| Responsables Secundarios | Rodríguez, G. |
| Edición | . |
| Responsable de Edición | . |
| Lugar | Buenos Aires |
| Editorial | Comisión Nacional de Energía Atómica |
| Fecha Publicación | 1962 |
| Fecha Publicación Hasta | . |
| País | AR |
| Idioma | español |
| Area Específica | . |
| Descripción Física | . |
| Características | il. |
| Dimensiones | 21 cm. |
| Adicionales | |
| Notas | . |
| Resumen | . |
| Idioma Resumen | . |
| Epoca de Contenido Desde | . |
| Epoca de Contenido Hasta | . |
| Materias | Sin descriptores |
| Fecha de Alta | 01/12/2011 |
Marc 21
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ISO 2709 Marc 21
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